• [1]

    Atsuo IIDA,Yohichi GOHSHI,Trace Element Analysis by X-Ray Fluorescence,KEK Preprint 89-193Feb.1990.[2]A.Rindby,X一Ray Spectrometry,22（1993）187.[3]D.K.G.de Boer,A.J.G.Leenaers et al,X-Ray Spectrometry,24（1995）91.[4]洪蓉，吴应荣，巢志瑜等，高能物理与核物理，17（1993）403.[5]吴应荣，潘巨祥，肖延安等，分析测试学报，15（1996）6.[6]安庆骧，詹秀春，巢志瑜等，分析测试学报，12（1993）6.[7]郑树，陈丽荣，蔡心涵等，科技通报，10（1994）1.[8]吴应荣，巢志瑜，洪蓉等，光谱学与光谱分析，12（1992）102.[9]钱琴芳，巢志瑜，吴应荣等，核技术，14（1991）493.[10]吴应荣，巢志瑜，洪蓉等，核技术，17（1994）226.[11]Niangqing Liu,Chungnong Zhou,Lingna Yan et al,NIM.,75（1993）571.